Рассмотрены основные закономерности формирования структуры и оптических характеристик примесных центров люминесценции в кристаллофосфорах на основе щелочно-галоидных овегз кристаллов Ввиду простоты структуры щелочно-галоидных кристаллов, они являются удобным модельным объектом для демонстрации указанных закономерностей, а также для применения экспериментальных и теоретических методов изучения структуры примесных дефектов и формирования спектров поглощения и излучения света такими дефектами Полученные закономерности легко распространяются и на другие кристаллофосфоры Описано применение методов EXAFS- и XEOL-спектроскопии для исследования локальной структуры примесных дефектов в кристаллофосфорах Данные методы позволяют получать структурную информацию, недоступную для других методов исследования Для научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов, специализирующихся в области физики твердого тела, радиационной физики, физики люминофоров.  Charles2006 г Твердый переплет, 192 стр ISBN 5-9221-0702-X Формат: 60x90/16 (~145х217 мм).